產品訊息

• TOPCON SR-LEDW-5N 分光輝度計
• 對應超高對比度，SR-LEDW的5nm波長頻寬機種
• 可對應極大的量測範圍(0.0005～5,000,000cd/m²)
• 搭載FIX模式,可大幅縮短生產線上的連續量測時間 (和本公司原有產品比較,可縮短1/2時間)
• 提升了靈敏度的均衡性能,從而能輕鬆量測LED晶片
• 裝上照度轉接頭(選配),還能量測照度(lx)
• 光譜波寬5nm以下(半値幅)