Ezcontras XLMS

ELDIM

Ezcontras XLMS 全視角光譜分析量測系統
Ezcontras XLMS img

產品訊息

ELDIM Ezcontras XLMS 可視角量測

  • 取景角度最大可達 +/-88 °
  • 解析度最高可達 0.04°/CCD pixel
  • 30秒量測時間可以取得所有角度的量測結果以及顏色和輝度值
  • 研發、品管都適用
Ezcontras XLMS